"Neue Systeme für die Materialuntersuchung und Qualitätskontrolle" Neue Pressemitteilung von Carl Zeiss:
Carl Zeiss stellt auf der CONTROL 2009, die vom 5. bis 8. Mai 2009 in Stuttgart stattfindet, seine bewährten und neuen Mikroskoplösungen für die materialwissenschaftliche Forschung, Qualitätskontrolle und Routineaufgaben vor.
Erstmals werden die Stereomikroskope SteREO Discovery von Carl Zeiss mit 3-fach Objektivrevolver und motorisiertem Y-Zwischentubus gezeigt – eine Konfiguration, die einen stufenlosen optischen Vergrößerungsbereich von bis zu 233:1 ermöglicht. Mit nur einem Mikroskop kann der Anwender sowohl dreidimensional beobachten als auch makroskopisch mit senkrechtem Blick auf das Objekt. Die Dokumentation der Bilder erfolgt parallaxefrei und mit einer maximalen Auflösung von 1500 Linienpaaren pro Millimeter. Dank des neuen Parfokalitätsmanagers bleibt manuelles Nachfokussieren auch bei diesem Vergrößerungsbereich unnötig.
Für hohe Ansprüche an die Materialmikroskopie ist das Mikroskopsystem Axio Imager konzipiert, das in der zweiten Generation ebenfalls auf der CONTROL zum ersten Mal vorgestellt wird. Mit seiner übersichtlichen Bedienung sowie der Möglichkeit, es mit anderen Systemen zu kombinieren und in Netzwerke einzubinden, ist es für die Praxis bestens gerüstet. Robustheit, Flexibilität und eine anspruchsvolle Optik zeichnen das System aus.
Auf der CONTROL mit dabei ist auch das verbesserte auf einem Mikroskop basierende Analyse- und Dokumentationssystem Particle Analyzer von Carl Zeiss. Es garantiert in der industriellen Qualitätsprüfung mit neuen Softwarefunktionen eine optimale Reproduzierbarkeit der Ergebnisse, eine einfachere Bedienung und eine höhere Funktionalität.
Mit dem konfokalen Lichtmikroskop Axio CSM 700 von Carl Zeiss können Materialwissenschaftler große Probenbereiche dreidimensional hochaufgelöst messen. Zu dem flexiblen Mikroskop für die materialwissenschaftliche Forschung, Qualitätskontrolle und Routineaufgaben gehört ein neuer motorischer Scanningtisch, mit dem große Probenbereiche mosaikförmig erfasst und mit noch höherer statistischer Sicherheit quantitativ vermessen werden.
Auf der CONTROL 2009 sind auch die Industrielle Messtechnik und der Bereich Nanotechnology Systems von Carl Zeiss vertreten.
Montag, 4. Mai 2009
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